X-ray multilayers for diffractometers, monochromators, and spectrometers : 17-19 august 1988, San Diego, Cal.
Bellingham : SPIE, c1988
| Campo | Valore |
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| Descrizione | X-ray multilayers for diffractometers, monochromators, and spectrometers : 17-19 august 1988, San Diego, Cal. / Finn E. Christensen, editor. - Bellingham : SPIE, c1988. - viii, 270 p. : ill. ; 28 cm. - (SPIE proceedings series ; 984) |
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| ID scheda | 32295 |
| Permalink | https://opac.inaf.it/?ids=32295 |
| Biblioteca | Inv. | Sez. | Collocazione | Prestabilità | Stato | Prenotazioni |
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| OAFI | TEMP OAFI007875 | OA Arcetri | 12.11/20 | Ammesso al prestito | A scaffale | Nessuna |