Principles of astrometry : with special emphasis on long-focus photographic astrometry
San Francisco ; London : W.E. Freeman and Company, c1967
| Campo | Valore |
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| Descrizione | Principles of astrometry : with special emphasis on long-focus photographic astrometry/ Peter Van de Kamp. - San Francisco ; London : W.E. Freeman and Company, c1967. - vii, 227 p. : ill. ; 24 cm. - (A series of books in mathematics) |
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| ID scheda | 33136 |
| Permalink | https://opac.inaf.it/?ids=33136 |
| Biblioteca | Sez. | Collocazione | Prestabilità | Stato | Prenotazioni |
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| OAFI | OA Arcetri | 3.3/14 | Ammesso al prestito | A scaffale | Nessuna |